Enerji Dağılımı X- ışını Spektroskopisi (EDS)

TEAM™ EDS Analysis System for SEM – X-ray Microanalysis
TEAM™ EDS Analiz sistemi, Octane Silicon Drift Decektor (SDD) serisi Taramalı Elektron Mikroskopları (SEM) için çok farklı uygulamalarda kullanılmak üzere üretilmiştir. TEAM™ EDS Analiz Sistemi kullanımı kolay, sezgisel ve akıllı özelliklere sahip, SEM' ler için uygun bir analitik araçtır.

TEM ile X-ışını Mikroanalizi için SEM

TEAM™ EDS Analiz Sistemi, geçirimli elektron mikroskopları (TEM) için üretilmiş Apollo XLT SDD serisini sunar.  TEM ve STEM' ler için üretilmiş Akıllı Özellikleri ile birlikte daha sezgiselsir ve kullanımı daha kolaydır.

Taramalı Elektron Mikroskopları (SEM)  için Octane Silicon Drift Dedector (SDD)

Taramalı Elektron Mikroskopları (SEM) için SDD teknolojisi günümüzde X-ışını mikroanalizi için önerilen çözümdür. EDAX' ın Octane SDD serisi üstün hafif element performansı ile varolan en iyi toplama efektifliğini, son derece yüksek sayım hızlarını karşılamayı ve mükemmel çözünürlük sunar.


Geçirimli Elektron Mikroskopları (TEM) için Silicon Drift Detector (SDD)
EDAX’ ın Apollo XLT' si dünyanın TEM' e tam entegre ilk SDD' sidir. Datayı alan ve sinyali işleyen elektronik dedektöre tamamen entegredir.

Entegre dedektör, mükemmel tasarımı sayesinde performansı yükseltir, kurulumu kolaylaştırır ve Ethernet üzerinden herhangi bir bilgisayardan uzaktan sanal erişim imkanı sunar




Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS)

 

TEAM™ EDS Analysis System for SEM – X-ray Microanalysis
TEAM™ EDS Analysis System for Scanning Electron Microscope (SEM) is offered with Octane Silicon Drift Detector (SDD) Series for a wide range of applications.  The TEAM™ EDS Analysis System coupled with Smart Features is the most intuitive and easy to use analytical tool available for the SEM.


TEAM™ EDS for TEM-X-ray Microanalysis
TEAM™ EDS Analysis System featuring Apollo XLT SDD Series provides the ultimate analytical solution for transmission electron microscope (TEM). The systems are offered for TEMs and STEMs with Smart Features to make them more intuitive and easier to use.


Octane Silicon Drift Detector (SDD) Series for the Scanning Electron Microscope (SEM)
SDD technology for the Scanning Electron Microscope (SEM) is the preferred choice for X-ray microanalysis today. EDAX’s Octane SDD series offers superior light element performance with the best collection efficiency available, capable of accepting extremely high count rates with excellent resolution.


Silicon Drift Detector (SDD) for the Transmission Electron Microscope (TEM)
EDAX’s Apollo XLT is the world's first SDD for the TEM that is fully integrated. Data acquisition and signal processing electronics are fully integrated into the detector. The integrated detector presents an elegant design that improves performance, facilitates installation and offers easy remote access via Ethernet from virtually any computer.


The Si(Li) Detector 
EDAX’s Sapphire Si(Li) Detector for the SEM and TEM, with classic 10-Liter Dewar, provides excellent light element performance and improved collection efficiency with heavy elements. EDAX’s Si(Li) retractable transmission electron microscope(r-TEM) detector utilizes a unique design that provides protection and enhances analytical performance.