Teneo SEMUltra Yüksek Çözünürlüklü görüntüleme ve yüksek analitik performans bir arada.
Malzeme araştıranlar, akademik ve endüstriel araştırma enstitüleri için FEI Teneo taralamlı elektron mikroskobu (SEM) Ultra Yüksek Çözünürlüklü görüntüleme ve en yüksek analitik performansı bir arada sunar. Dedeksiyonda devrimsel - eşsiz Trinity™ dedeksiyon sistemi en yüksek çeşitlilikteki örneklerin görüntülerin kolay yorumlanmasını ve en yüksek kontrastı sağlar.
Standart numune odası içi dedektörler ile üç ayrı in-lens dedektörün eş zamanlı operasyonu ile, her açıdan eş zamanlı dedeksiyon yapılabildiği için, hem zaman kazanılır, hem maksimum bilgi alınabilir hem de örneğin kontaminasyonu ve hasar görmesi engellenir.
Malzeme Bilimi için Teneo
Teneo platformu Apreo modeli olarak devam etmektedir. Apreo modeli için aşağıdaki linki tıklayabilirsiniz.