Inspect
İleri düzey numune odası vakum teknolojisi ile birlikte Inspect™ serisi taramalı elektron mikroskopları (SEM) FEI nin dünya klasındaki elektron optiği ve örnek işleme hızındaki başarısı üzerine üretilmiştir. İnceleme, karakterizasyon, proses konrolü ve hata analizi önemli olduğunda, Inspect S50 ve Inspect F50’ modellerinin yüksek çözünürlüklü görüntülemesi şarttır. Sezgisel kullanıcı arayüzü ve yazılım, görüntüyü kaydetmek için gerekli tüm fonksiyonlara tek bir araç çubuğu ile erişilebilir. İyi donanımlı cihaz, çeşitli kullanım gereksinimleri için gerekli tutucu ve tam fonksiyonel tablası ile farklı kullanımlar ve çoklu kullanıcı için uygundur.
Inspect serisi cihazlar biri tungsten SEM , diğeri rutin yüksek çözünürlüklü görüntüleme için FEG SEM olmak üzere iki taramalı elektron mikroskobunu içerir. Bu düşük maliyetli, esnek, son teknoloji ürünü elektron mikroskopları, FEI’ ın ileri teknoloji ile birlikte malzeme karakterizasyonu ve inceleme uygulamaları için endüstriyel üreticiler ve araştırmacılar için değerli kılar.
Malzeme Bilimi için Inspect
Temelde çok çeşilti malzemelerin incelenmesi, yapı ve kompozisyonlarının karakterizasyonu için tasarlanmış, kolay kullanımlı Inspect F50, çoğu araştırma gereksinimlerini sağlayacak şekilde yüksek çözünürlüklü ve kararlı bir platformdur. Kolay kullanımlı arayüzü doğru ve hızlı data toplanmasını sağlar; Malzeme özelliklerinin ve elementel kompazisyonun bulunması için hızlı elementel analiz ile yüzey ve kompozisyonal görüntüler birleştirilebilir. Pek çok alanda FEG SEM’ in yüksek çözünürlük ve kontrastı en kaliteli görüntülerin alınmasını ve hızlı analiz yapılabilmesini sağlar. Inspect F50’ nin temel işlevi bu ana araştırma uygulamaları için esnek çözümler sunmaktır.
Termal emisyon elektron optiği kullanan, yüksek çözünürlük kapasiteli, düşük vakumlu taramalı elektron mikroskobu (SEM) Inspect S50, endüstri lideridir. Düşük vakum değerleri, iletken olmayan ve yüksek kontaminasyona sahip materyallerin incelenmesi kısmen kullanışlı iken, aynı zamanda yüklenme olmadan görüntüleme ve analiz için örnek hazırlama kompleksliğini de minimuma indirir.
Ürün Modelleri
- Inspect F50
- Inspect S50
Nova NanoSEM
Nova NanoSEM™ taramalı elektron mikroskobu sınıfının en iyi görüntüleme ve analitik performansını tek ve kolay kullanımlı bir cihazda sağlar. Özel olarak laboratuvardaki operasyonlarınızı kolaylaştırmak üzere tasarlanmıştır, Nova NanoSEM sahipleri en kapsamlı cevapları en az zaman kaybıyla elde edebilir. Görüntü kalitesinden ve günlük çalışmanızdan kayba neden olmadan verimliği arttırır.
Nova NanoSEM 50 serisi ile birlikte, daha fazlası olası hale gelir. İleri seviye optik (2 modlu final objektifi içerir), SE/ BSE (İkincil Elektron / Gerisaçılan Elektron) lens içi dedeksiyon ve demet yavaşlatmanın (beam deceleration) güçlü kombinasyonunun eklenmesi ile, Nova NanoSEM 50 serisi yeni nesil, yüksek hassasiyetli geri çağırılabilir SE/BSE ve STEM dedektörleri, ek olarak SE / BSE filitreleme kabiliyetleriyle ilgilenilen bilgiyi en iyi şekilde optimize eder. Görüntüleme sorunlarının üstesinden gelebilmek için akıllı tarama modları vardır.
Malzeme Bilimi için Nova NanoSEM
Malzeme laboratuvarının isteği, çok farklı örnek tipleri için gereken hassas bilgiyi, sahibinin istediği görüntü ve analitik performansı verecek esnekliğe sahip bir cihazdır. Nova NanoSEM ile cihaz koşulları yapılmak istenilen analitik çalışmaya veya incelenen örnek tipine göre kolaylıkla değiştirilebilir.
Nova NanoSEM ile birlikte:
- İncelenebilecek örnek çeşitliliğini arttırarak araştırma kabiliyetlerinizi genişletin
- Yüksek çözünürlüklü görüntüleme – Yüksek vakum modunda düşük voltaj [1 kV] çözünürlüğü 1.4 nm iken, iletken olmayan malzemeler için Nova NanoSEM düşük voltajlarda [3 kV] eşsiz yüksek çözünürlük (1.8 nm) verir.
- Farklı örnek tiplerinde eşsiz görüntü kalitesi için düşük ve yüksek gerilimlerde yüksek çözünürlük ve aynı zamanda yüksek demet akımı (hızlı EDS / EBSD / CL / analitik araştırma için gerekli)
- Cam, seramik ve diğer iletken olmayan malzemelerden en üst kalitede analitik data almak istediğinizde – Düşük vakum modunda iyi performans size daha fazla analitik güç verir
Ürün Modelleri
En fazla çeşitlilikte örnek için mükemmel performans.
Nova NanoSEM taramalı elektron mikroskobu tek ve kullanımı kolay bir cihazda sınıfının en iyi görüntü ve analitik performansını verir. Özel olarak laboratuvardaki operasyonlarınızı kolaylaştırmak üzere tasarlanmıştır, Nova NanoSEM sahipleri en kapsamlı cevapları en az zaman kaybıyla elde edebilir. Görüntü kalitesinden ve günlük çalışmanızdan kayba neden olmayarak verimliği arttırır.
Malzeme laboratuvarının isteği, çok farklı örnek tipleri için gereken hassas bilgiyi, sahibinin istediği görüntü ve analitik performansı verecek esnekliğe sahip bir cihazdır. Nova NanoSEM ile cihaz koşulları yapılmak istenilen analitik çalışmaya veya incelenen örnek tipine göre kolaylıkla değiştirilebilir.
Nova NanoSEM 450 ile:
- Çok çeşitli örnek tiplerini inceleyebileceğiniz için araştırma kapasitenizi genişletebilirsiniz
- Çözünürlükten fedakarlık etmeden yüzey hassasiyeti alın – Yüksek vakum modunda düşük voltaj [1.0 kV] çözünürlüğü 1.4 nm, iletken olmayan materyaller için Nova NanoSEM düşük voltajlarda [3.0 kV] eşsiz bir şekilde en yüksek çözünürlüğü (1.8 nm) verir
- Tek bir konfigürasyonda çok farklı örnek tiplerinde eşsiz görüntü kalitesi vermek için yüksek demet akımı (eşzamanlı EDS / EBSD / CL / analitik araştırma) ile birlikte düşük ve yüksek voltajlarda yüksek çözünürlük
- Cam, seramin veya diğer iletken olmayan materyallerde en kaliteli analitik datayı almak istediğinizde, düşük vakum modunda güçlü performans size daha fazla analitik güç verir.
- Geniş tabla hareketi ve geniş motorize Z hareketi ile büyük katı örnekler analiz edilebilir.
Nova NanoSEM 650’ nin ek olarak sağladıkları:
- Piezo sürülen motor ile tüm hareket aralığında ultra yüksek hassasiyet
- Yüksek tekrarlanabilirlik ve en küçük adım aralığı
- 8 inç wafer’ a kadar büyük örneklerin analizi
Versa 3D DualBeam
FEI’ nin DualBeam tarihindeki öncülüğü ve başarısı, düşük vakum ve ESEM™ ‘deki uzmanlığı , FEI’ nin günümüzün en çok yönlü DualBeam’ ini tanıtmasını sağladı. Versa 3D en zor örneklerde bile çok daha fazla 3B veri alınması, son model görüntüleme ve analitik performans sağlar.
.jpg)
Versa 3D' yi Keşfedin
Gelecek nesil ürünlerin üretilmesi, malzemelerin iç yapılarının ve fonksiyonel olmaları için hangi özelliklerin önemli olduğunun gerçekten anlaşılması için araştırmacıların yeni malzeme bilimi araçlarına ve kabiliyetlere gereksinimleri vardır. Bunun anlamı, malzeme özelliklerinin tam olarak anlaşılması için yeni tekniklerin, örneğin 3B veri alınması gibi tekniklerin uygulanmasıdır. Geleneksel olarak, Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) çoğu çalışma için gerekli kabiliyete sahiptir, ancak yeni nesil malzemelerin üretilmesi için SEM ve Odaklı İyon Demeti (FIB) teknolojisi bir arada gereklidir. Farklı tipte SEM/ FIB cihazları bulunmakla beraber, ileri seviye malzeme analizi ihtiyaçları için Versa 3D çok daha fazla kabiliyete sahiptir.
Ürün Modelleri
Eğer SEM size zaten tanıdık geliyorsa, Versa 3D sayesinde erişeceğiniz DualBeam teknolojisi ile erişebileceğiniz diğer uygulamaları düşünün. Tek bir platform ile araştırma opsiyonlarınızda daha az limitleme ve daha çok kapasiteye sahip olun.
Versa 3D ile şunları yapabilirsiniz:
Versa 3D ile şunları yapabilirsiniz:
- FIB ile yüzey altı özellikleri, malzeme katmanlarını veya kusurları gözlemleyebilir ardından SEM ile yüksek çözünürlüklü görüntüler alabilirsiniz.
- FIB ile yüzey altı düzlemlere erişip yeni bir bilgi (örneğin kanallama kontrastı bilgisi) toplayıp, yüklenen örneklerde bile SEM ile kompozisyonel, yoğunluk veya analitik bilgi alabilirsiniz.
- Atomik çözünürlükte TEM görüntüsü almak için örneğe özel lameller hazırlayabilirsiniz.
- Opsiyonel ESEM modu ile uygulama kapasitenizi in situ dinamik deneylere kadar genişletebilirsiniz.
Versa 3D ile çalışılabilecek örnek ve uygulama çeşitlerini arttıran yeni teknolojiler:
- Düşük vakum SEM modu, SmartSCAN, drift compensated frame integration (DCFI) ve Drift Suppressed Milling gibi yüklenme dengeleyici teknikler kullanarak iletken olmayan örnekleri karakterize etmek ve yüklenme ve sürüklenmeye yatkın materyallerden örnek hazırlama
- Mükemmel analitik performanstan ödün vermeden, demete karşı hassas örnekler veya diğer zor görüntülenen materyaller için düşük voltajlarda yüksek çözünürlüklü SEM çalışmaları için opsiyonel UC kolon ilave edilebilir (Sadece Versa 3D High Vacuum için)
En zorlu örneklerde bile kolaylıkla görüntü ve data alın:
Yeni nesil materyallerle çalışmak, karakterizasyon için yeni zorluklar getirir. Demet sürüklenmesi ve örnek hasarı gibi komplikasyonlar, sonuçlarınızı etkiler ve kritik analiz zamanınızı çalabilir. Versa 3D en zorlu örneklerde bile bu zorlukların üstesinden gelmek için güçlü teknolojiler sunar ve bu sayede malzemelerinizin yüksek kaliteli karakterizasyonunu hızla ve kolayca yapabilirsiniz
Versa 3D ile örnek hazırlanmasını keşfedin:
Eğer mücadeleniz TEM incelemesi veya diğer teknikler için yüksek kaliteli örnek hazırlamaksa, Versa 3D den daha iyi bir partner bulamazsınız.
DualBeam sistemleri uzun süreden beri çok farklı örneklerin STEM veya TEM, atomik prob mikroskobisi, hot stage ve gerilme testi analizleri, EBSD analizi, veya yüzey altı metrolojisi gibi analiz tekniklerinin ve karakterizasyonunun yapılması için kullanılmaktadır. Versa 3D bu kapasiteyi daha farklı tipteki yüksek kaliteli, özel örnekler malzemeler için genişletir.
Örneğinizin verebileceği tüm datayı yakalayın
İleri seviyede malzeme araştırması ve üretimi, malzeme özelliklerinin ve en sonunda malzemelerin fonksiyonlarının tam anlaşılması için iki boyutlu görüntü almaktan daha fazlasını görmeyi gerektirir. 3. boyuta erişim sizin için olası karakterizasyon rutunlerinin sayısını arttırırken in-depth analiz yapılmasını da sağlar.
.jpg)
Quanta 3D 200i
Quanta 3D 200i, endüstriyel ve akademik alanda malzemelerin incelenmesi, hata analizi yapılması ve örnek hazırlanması için tasarlanmış bir karakterizasyon cihazıdır. Quanta taramalı elektron mikroskobu (SEM) ile yüksek akımlı odaklı iyon demeti (FIB)’ nin kombinasyonu, herhangi bir örneğin çalışılması, malzemelerin karakterize edilemesi ve modifiye edilmesi için esnek bir çözüm sunar. Yüksek akımlı iyon kolonu belirlenen küçük alanda hızlı bir şekilde depozit yada örneğin aşındırılması ile hassas bir şekilde örnek hazırlamakta kullanılırken, akımı arttırılmış tungsten SEM mikron altı yapılarda mükemmel bir görüntüleme sağlar. Quanta 3D 200i laboratuvarınıza hızlı örnek hazırlama, 3B nanoanaliz, TEM, EBSD & atom probu örneklerinin hazırlanması veya örnek yüzeyinde nanometre boyuntunda yapısal modifikasyon yapılması için yeni yöntemler sunar.
Tecnai
Tecnai geçirimli elektron mikroskobu modeli serisi, yaşam bilimi ve hassas malzeme araştırmaları, yarıiletken ve veri depolama endüstrileri ve çok kullanılıcılı laboratuvarlarda yüksek kontrastlı görüntüleme için özel olarak tasarlanmıştır.
FEI Tecnai geçirimli elektron mikroskopları (TEM) yaşam bilimleri, malzeme bilimi, nanoteknoloji, yarıiletken ve veri toplama endüstrileri için güvenilir ve geniş kapsamlı görüntüleme ve analiz çözümleri sağlamak için tasarlanmıştır.
Avantajlar ve Kabiliyetler
Hücre biyolojisi, yapı biyolojisi, hassas malzemeler ve (biyo) – nanoteknoloji alanlarındaki ana araştırmalar, atomik seviyeye kadar incelemeler gerektirir. TEM’ ler hücre ve organellerden veya daha küçük bileşenlerden yüksek büyütmelerde ve yüksek çözünürlükte 2B ve 3B bilgi edinmek için büyük önem taşır. Optimum 2B ve 3B tomografig görüntüleme için yüksek seviyede otomasyon ve zeka ön koşuldur.
90nm altı teknolojiye odaklanan Tecnai en yüksek S/TEM versini sağlayacak şekilde konfigüre edilmiştir. Örnek başına maliyet, S/TEM, TEM ve EDS modlarındaki performanstan ödün vermeden düşer. Ultra yüksek-çözünürlüklü görüntüleme, analiz ve karakterizasyona olanak vermesi, kullanımı kolay tam donanımlı Tecnai TEM’ leri kusur ve hata analizinde komple bir çözüm haline getirir.
Yaklaşık 20 model arasından seçim olasılığı sunan Tecnai G2 serisi, modern teknokoji ile yenilikçi bilim topluluğunun zorlu taleplerini karşılar.
Tecnai Osiris™
Tecnai Osiris tam dijital, yüksek performanslı 200kV S/TEM sistemi, tüm görüntüleme ve analitik modlarda olağan dışı performans sağlamak için tasarlanmıştır. Yüksek parlaklıklı alan emisyonlu emitörü ve SDD teknolojisi kulllanan penceresiz EDX dedeksiyonu kombinasyonu verilen bir akım değeri için benzersiz sayım oranları, hafif elementlerde belirgin olarak yükselmiş hassasiyet ve oluşan analitik sinyallerin hepsinin akıllı bir şekilde dedesiyonunu sağlar. Yüksek çıkış sayımı sayesinde kısa sürede istatistiksel olarak anlamlı miktarda pik sayımının toplanabilmesi az miktardaki elementlerin dedeksiyonunu sağlar. Hızlı haritalama sayesinde,renk kodlu elemental haritalama için gerekli süre, yüksek kaliteli gri tonlu bir STEM görüntüsü almak için gerekli süreye iner.
X- FEG Yüksek Parlaklıklı Tabanca
X-FEG FEI tarafından tasarlanmış bir elektron kaynağıdır, Schottky FEG in yararlı özellikleri (yüksek toplam akım, uzun süreli kararlılık ve uzun ömür) ile Cold FEG’ in yüksek parlaklığını kombine ederken, vakumun gereksinimlerini yükseltmez ve tip-flash gerektirmez. X-FEG tüm küçük problarda daha yüksek akım verirken, yakınsama açısının küçük kalmasını sağlar. Bu STEM ve EDX/EELS’ te sinyal-gürültü oranını iyileştirir, holografi ve HRTEM’ de uzaysal koheransı iyileştirir ve kimyasal analizlerdeki (EDX ve EELS) yanal çözünürlüğü yükseltir.
Super-X hızlı EDX Çözümü
Super-X FEI’ nin EDX spektroskopisi ve hızlı EDX haritalmasında üstün performanslı, üstün hassasiyet ve yüksek performanslı tescilli EDX dedektörüdür. 4 adet SDD dedektörü, yeni A-TWIN (Analitik Twin) objektif lensine 0,9 srad.’ lık katı açı ile entegre edilerek maksimum toplama efektivitesi sağlar. Yüksek katı açı veriye düşük şiddetli EDX sinyalleri için bile hızla ulaşmasını sağlar. Yüksek hassasiyetli penceresiz sistem boron dahil tüm elementlerin dedeksiyonunu sağlar.
FS-1 Hızlı EELS Çözümü
FS-1 , FEI’ ye özel yeni bir EELS spektrometresidir, etkin şekilde veri toplamasıyla tam enerji çözünürlüğünü kombine eder. EELS, EDX’ i tamamlayıcı analitik bilgi sağlar, EELS hafif elementlere daha hassastır, EDX tarafından elde edilemeyen kimyasal bağlanma ve valans durumu bilgilerinin anlaşılamasını sağlar.
SmartCAM CCD Kamera
SmartCam, yüksek hızlı dijital kameradır ve yenilikçi arayüzü ile kullanıcının tüm uygulamaları yapabilmesini ve mikroskoptan uzakta ergonomik bir ortamda çalışabilmesini sağlar.