Nanomill
- Çok düşük enerjili iyon kaynağı.
- Yoğunlaştırılmış iyon demeti.
- Amorf yapıları ve implant katmanları yok eder.
- Post-FIB uygulamaları ve konvansiyonel aşındırma.
- LN2 soğutmalı örnek rafı.
Devrimsel nitelikte, çok düşük enerjili, yoğunlaştırılmış iyon demeti.
Fischione' un Model 1040 Nanomill cihazı, ileri düzey transmisyon elektron mnikroskopisi (TEM) görüntülemesi ve analizinde kullanılmak üzere yüksek kaliteli ince örnekler hazırlamak için mükemmel bir araçtır. Hem post-FIB (focused ion beam) işlemleri hemde klasik örnek hazırlama yöntemleri için idealdir.
Hedefe yönelik, çok düşük enerjili nanomill işlemi.
Nanomill 50 eV a kadar iyon enerjisi ve 4 mikrona kadar demet boyutları sunan gaz iyon kaynağı teknolojisini kullanır. Bu örneklerin omorflaşmadan, tekrar depozit olmadan ve implantsız olarak hazırlanmasını sağlar. İyon demeti ilgilenilen özel bir bölgeye yöneltilebilir. Örneğin hedeflenen kısmından iyonlar tarafından üretilen elektronları görüntüleyebilmek için bir ikincil elektron dedektörü (SED) kullanılır.
Otomatik operasyon
Nanomill kolaylıkla programlanabilir. Ayarlanabilir iyon enerjisi, öğütme açısı, örneğin döndürülebilmesi ve kriyojenik örnek sağutma parametreleri, hazırlanabilecek örnek çeşitlerini ve kalitesini arttırır. Vakum kilidi örnek değişimi esnasında yüksek verimliliği sağlar.